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1. CPK是長期的過程能力,適合于批量生產過程 s, [ i2 i( P: c
CPK是有偏移情況下的過程能力指數,產品特性均植與公差中心不重合時加以修正用;
' K$ `+ B5 H* Y- S2. 無偏移時CP表示過程加工的質量能力,CP越大,質量能力越強,有偏移時,CPK表示過程中心與公差中心的偏移情況,CPK越大,兩者偏離越小,表示的是質量能力與管理能力的綜合結果。
# T ~# f4 V/ NC系列的過程能力指數是指過程的短期短期過程能力指數,P系列的過程能力指數是指過程的長期過程能力指數,使用PP和PPK的好處是可以反映系統當前的實際狀態,而不要求在穩態下才可以進行計算。3 o% Q2 S, F9 F+ r0 p9 w
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1.CPK是長期的過程能力,適合于批量生產過程6 w% I& V/ z" {( |9 r6 n0 \
CPK是有偏移情況下的過程能力指數,產品特性均植與公差中心不重合時加以修正用;* @- t0 ~; c" B$ o6 Z1 }+ K
2.無偏移時CP表示過程加工的質量能力,CP越大,質量能力越強,有偏移時,CPK表示過程中心與公差中心的偏移情況,CPK越大,兩者偏離越小,表示的是質量能力與管理能力的綜合結果。
( A) U: r7 ~0 P5 R* x8 |+ `C系列的過程能力指數是指過程的短期短期過程能力指數,P系列的過程能力指數是指過程的長期過程能力指數,使用PP和PPK的好處是可以反映系統當前的實際狀態,而不要求在穩態下才可以進行計算。
5 N2 G& l. S% m) a/ z3 K2 s3.PPK是短期的過程能力,適合于試生產過程,確定上下控制線,進行現場 控制% B R+ [' t2 o: R
PPK是QS9000提出的一個新概念,物理含義是不論分布在公差范圍內任何位置,它對于上規范限都可以計算出一個上單側過程性能指數PPU和下單側過程性能指數PPL,取兩者之間最小的一個,就是PPK
/ Y& F0 q( ]* M0 |4.CMK也是短期的過程能力指數,是針對設備能力的,主要在新采購的設備、設備調試結束后、出現產品質量問題等時候進行cmk測定,它是vda的要求8 \+ |4 F) T9 R% J2 f
PPK:短期能力指數,一般是在過程的初期計算,因為這個時候的過程受到人、機、料、法、環的特殊原因影響,導致過程不穩定。這個時候的首要任務是讓過程穩定下來,因此此時應連續監控過程或在較短時間內分組來監控過程,計算出來的能力指數就是PPK。I
$ `& C' ~7 N; ~% ICPK:長期能力指數,該指數必須是在過程人、機、料、法、環、測都穩定的情況下計算,也就是在初始研究后,你的控制圖顯示過程要受控后,方可開始研究CPK。這個時候分組的時間間隔應該較長,以反映過程在較長時間內的誤差(也就是子組之間的誤差),應當忽略在較短時間內抽樣的誤差(也就是子組內的誤差)。7 ~3 {# T$ |- a+ |% d# U
ACMK:設備能力指數,跟PPK有相似之處,不同的在于它側重反映設備滿足特性的程度,要求必須將人、料、法、環標準化,只反映設備的影響。因此它的抽樣一般是短時連續抽樣,以排除人員、材料、加工方法和環境的影響,通常CMK中包含了測量系統的變差。
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- \: A; `% {9 @1 C# d5 U/ ?5 WPPK:是按每100萬產品的概率來推算的,即是在按100%的基礎上來推導到每100萬產品的過程能力.所以過多的體現在六西格瑪的領域.從我個人的理解來說PPK是在無偏移的情況下的每100萬產品中來計算的過程能力.并不是初期的過程能力,在過程不受控的情況下,是不能計算過程能力的,而且也沒有必要,只是說當你不知道一個過程是否受控,所以一開始就去計算.但這個時候發現不了多少問題.# N: @0 k6 k3 t0 k1 Y0 x
CPK:Complex Process Capability index 的縮寫,是現代企業用于表示制成能力的指標。" }- H9 K8 M. j
CPK值越大表示品質越佳。
) T" R" P. y7 l% oCPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s)) # Q4 S1 U0 c% X3 [9 x
Cpk——過程能力指數 " F# r2 v2 o% Z4 { M j
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s] 5 Y+ |6 o& S" t O/ s; s6 i0 r
Cpk應用講議
$ [2 p N4 L6 z9 U; A( G) c( D, F) y1. Cpk的中文定義為:制程能力指數,是某個工程或制程水準的量化反應,也是工程評估的一類指標。 ! z4 K: _+ I; j0 r# Z% M
2. 同Cpk息息相關的兩個參數:Ca , Cp. 2 ^" q5 ~! c0 K
Ca: 制程準確度。 Cp: 制程精密度。 7 a$ h3 M# E6 P) F5 H7 M0 n, B+ x8 [
3. Cpk, Ca, Cp三者的關系: Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應,Ca反應的是位置關系(集中趨勢),Cp反應的是散布關系(離散趨勢) $ ]3 M% q9 A7 q
4. 當選擇制程站別用Cpk來作管控時,應以成本做考量的首要因素,還有是其品質特性對后制程的影響度。 7 ^, h7 _7 x7 A: `
5. 計算取樣數據至少應有20~25組數據,方具有一定代表性。
3 U" S9 T7 c. M6. 計算Cpk除收集取樣數據外,還應知曉該品質特性的規格上下限(USL,LSL),才可順利計算其值。 " ?7 Y+ y) q2 ]) L- _# Z
7. 首先可用Excel的“STDEV”函數自動計算所取樣數據的標準差(σ),再計算出規格公差(T),及規格中心值(u). 規格公差=規格上限-規格下限;規格中心值=(規格上限+規格下限)/2;7 f& e+ W3 \5 J- O7 t
8. 依據公式:
4 d( v: v% }9 l3 r0 P1 ~,
" m, U, ~- O+ ^- @( e! ?計算出制程準確度:Ca值
9 Z$ p7 ^5 s7 o( t# W; H9. 依據公式:Cp = ," F& y" L) }1 T a
計算出制程精密度:Cp值
! e, I7 N" b0 l+ }. p( f8 }8 ]10. 依據公式:Cpk=Cp ,
0 ~3 q/ A) {4 f& I5 T計算出制程能力指數:Cpk值* \' w8 L0 m; }! @1 K6 Z; v
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