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長度檢定規程學習心得

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發表于 2007-11-28 14:18:00 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
本次學習的內容是七個量具規程的宣貫,包括《通用卡尺檢定規程》、《高度卡尺檢定規程》、《杠桿千分尺》、《杠桿卡規檢定規程》、《外徑千分尺校準規程》、《內徑千分尺檢定規程》、《測量內尺寸千分尺校準規范》、《內徑表校準規范》,宣貫內容較多,下面對其中需要注意的地方作簡單說明。. Q; h, R& i' G& H5 ?( ]5 d4 @

) y( i$ g9 _$ ?( G! \JJG30-2002《通用卡尺檢定規程》9 r* k3 V0 H: @" L- ~( S9 w
4.8數字顯示器的示值穩定性
3 y+ B" F9 Q; z4 Q! X! G$ ~9 ^& E本項目只適用于電子卡尺。由于該卡尺屬于機電一體代量具,所以必須考慮它電氣系統的時間穩定性,主要是由于傳感器信號不穩定造成的。- _3 o6 X; n  Q% M
規程規定本項目的檢定方法在測量范圍內的任意位置緊固尺框;電子數顯卡尺的示值穩定度以數字顯示器示值的變化來確定,技術要求:1小時內顯示值的變化不大0.01mm,而未要求連續觀察。在進行這個項目的檢定時,可將尺框固定的數字顯示器卡尺放置在平板上,1小時后觀察顯示值的變化即可。; _% Q0 L. o; t2 n8 |6 A2 z

( I* X3 B" G$ p! i4.9示值誤差的檢定- ^4 z1 _( c3 A/ F/ I
檢定通用卡尺示值誤差時所用的標準器為3級或6等量塊,深度尺在1級平板上進行。9 C* s% ^" x2 ~7 L
應正確理解規程上表7中允許誤差的含義。例一把測量范圍為(0~500)mm的卡尺,其不同測量范圍(0~120)、>(150~200)、>(200~300)、>(300~500)mm的允許誤差分別為±0.02、±0.03、±0.04、±0.05mm,若理解為在(0~500)mm的允許誤差均為±0.05mm,那就是錯誤的。
7 a+ m7 N# F" A) c1 h2 S1 {由于通用卡尺在設計上不符合阿貝原理,為控制尺框沿全尺移動時產生的角位移,所以規程規定:檢定時每一受檢點應在量爪的里端和外端兩面三刀個位置上檢定,而且要求量塊工作面長邊和量爪測量面長邊應垂直。
/ K2 ]) I3 s. }" V. P) p通用卡尺的示值誤差是各受檢點的函數,而且隨著受檢點數目增多,示值誤差置信概率也會增加,因此希望受檢點數目多一些。但為了減輕檢定工作量,又要求盡量減少受檢點的數目,為此規程根據通用卡尺示值誤差的分布規律,確定了受檢點均勻分布的選擇原則,而且規定了受檢點數目下限;即應在主標尺和游標尺(圓標尺)上均勻分布的三個位置上。大于300mm時主標尺應取均勻分布的六個位置,對受檢點數目的上限則不予限制。對于測量范圍大于1000mm的卡尺,其自重變形較大,應進行“平檢”和“立檢”兩支放狀態下的檢定。平檢:第一支點在主標尺零標記外測50mm以內,第二支點在尺框內測100mm以內,第三支點在測量上限標記外側50mm以內。立檢:用上述第一、二支點,當尾部發生偏重時可在第三支點處加輔助支撐,所用三個支點應等高。對天深度卡尺,檢定時按受檢尺寸依次將兩組同一尺寸的量塊平行放置在1級平板上,使基準面的長邊和量塊工作面的長邊方向垂直接觸,再移動尺身,使其測量面和平板接觸,檢定時,量塊應分別置于基準面的里端和外端兩位置檢定。0 z9 e( V+ d3 b1 V
對于帶有深度測量桿的卡尺,深度測量桿檢定時。用兩塊尺寸為20mm的量塊置于1級平板上,使飛身測量面與量塊接觸,伸出測量桿測量面與平板接觸,然后在尺身上讀數。該點示值誤差應不超過規定值。  S  h# o' w: U
) f5 S: x' H6 K7 m9 g8 u) w( T6 M
JJG31-1999《高度卡尺檢定規程》+ n8 |. b2 Z( i5 i) w
3.4標尺標記寬度和寬度差
2 P+ [, ^3 h5 h  Q4 Z7 F) O此項技術要求是防止標記寬度過寬和過窄對讀數準確性的影響和寬度差過大引起的讀數誤差。若標記寬度過細(≤0.08mn),人眼睛的辨別困難,容易疲勞,過寬則影響估讀的準確度。檢定時在主標尺和游標尺及圓標尺的標記中分別選取至少3條標記線(可多于3條)用工具顯微鏡測量所選取的標記線寬的檢定結果,再以標記線寬度檢定結果中最大與最小值之差確定標記寬度差。抽檢的標記(不少于3條)中,不允許任意一條標記的寬度超差,亦即不能取平均值作為標記寬度。8 }5 D. Z5 Q( R9 ~8 w' k
主標尺和游標尺標記寬度和寬度差應分別測量和計算。
; m; a2 h8 M# f, a5 z7 B現在由于廠家采用了激光刻線的生產工藝,能保證此項要求,所以檢定時一般用目力觀測就可以了。
! F2 K1 ]' H1 L0 a
6 O' b! o; ^# u' t0 l3.12數字顯示器的示值穩定度
& J5 P" N/ k: l/ [1 t與JJG30-2002《通用卡尺檢定規程》同。
6 @3 }3 F; a, n  O% m$ X, `# F9 {
2 p( L% g# M2 M* k$ NJJG24-2001《杠標千分尺、杠桿卡規檢定規程》
% |1 y) N+ D- M; @. @5 m5 X; E4.9校對用量桿工作尺寸偏差和平行度
  o, b! x: x5 ~) w) ?" O& {規程修訂后,其允許值不變。但檢定量桿工作尺寸偏差時,原規程是規定“5點上的尺寸偏差均應符合要求”,而新規程是規定“中心點進行3次讀數,取算術平均值作為量桿工作尺寸偏差”。原規程只要求給出符合性,這是修定前后的區別點。而除中心點外的其他4點的尺寸偏差靠平行度控制。顯然,新規程明確規定量桿工作尺寸偏差定在中心點,以便能給出量桿的合理實際尺寸,方便使用量桿時對尺寸偏差進行修正。+ \7 L9 u! [( D$ g* v
8 H: K( @$ Q+ J% L
4.4測量面的平面度   4.5杠桿尺兩測量面的平行度
' l6 g- Q, {# P6 O' U" A形狀和位置誤差對示值誤差有直接影響,一般要求形位誤差應小于示值誤差的1/5~1/2;由于杠桿千分尺測桿是螺旋旋轉運動,其兩測量面的相互平行度隨測桿旋轉而變化,所以檢定平行度時在尺寸間隔依次為測桿1/4螺距的四處進行檢定。該項對卡規不要求。
* G- R9 T+ {; b5 l4 n
: c5 p% b* N9 i  r! P2 P  r& eJJF1088-2002《外徑千分尺校準規范》
; j& Y, v) K( {, S4.5微分筒錐面的端面邊到固定套購筒管刻線面的距離
3 g( n: h% E$ N( G; s可用塞尺檢驗,但要注意需要在最大偏心處檢驗才是正確的微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒管刻線面的距離。
, G; ~" S# g- f( j6 l6 `
! }) g* z1 e: Q

+ M* v# h( v8 a2 Z5.2校準項目和標準器及其他設備
) `2 G, i+ U1 G& [2 h$ d3 c1 @9 F; v' R% t3 U) U
1.測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動/ o, q+ E5 `/ q4 z( C8 H( f

, @& R" o& [1 I2 U5 I6 ~該項只作副件,包含在外觀內,一般手感,無明顯影響即可。這是因為只要千分尺的平行度達到要求就能保證徑向擺動一項合格。
# Z, k0 @' `7 k+ f: G7 v4 ?" s/ }) Q3 j; ?5 D# }

# G  L, Y- n6 \( m% u: ?8 d# o& h/ i" a# r' @' T
2.測砧工作面與測微螺桿工作面的相對偏移量9 C0 H6 g  e/ ~, p9 {

* b! N+ ^; J  k( l* h9 r同樣,該項只作副件,無明顯影響即可。  D" q! b1 M/ Y: A

1 _: @" ~" j/ N2 H/ A
; g0 a- @3 M  z  {( \( @( G* l& A' A6 G% E1 Z. F( s
6.8工作面的平面度
$ V; ^, j, N. H3 Q7 M
) w3 h9 M; t9 G, N+ g0 H用2級的平面平晶以技術光波干涉法校準。使用中和修理后的外徑千分尺也可以用1級刀口尺以光隙法校準。但用刀口尺存在不合理之處,用刀口尺校準不確定度過大,無法達到要求,一般采用技術光波干涉法校準。. ^/ x# ~% s& o" z$ @7 C! G5 K

5 U: H$ Q9 V6 L# P  n* a
( x( r0 F7 O$ H& {7 L8 }' V$ ?% a$ P, ?$ k
JJG22-2003《內徑千分尺檢定規程》/ b) b% S6 [/ K7 h$ W" M+ a; B
; ^3 O+ M0 ~2 j$ Z1 ]- w) f. A
1.   新規程正文“1范圍”中增加了“測微頭示值范圍13mm、25mm、50mm”,同時將原規程“測量范圍至5000mm”改為“測量范圍(50~6000)mm”。
2 E: g' ^* U- S, D' `, @
" f# ]/ G. ?9 [) p- |  P修改原因:由于原規程在通用范圍中未有提出測微頭示值范圍限制的條件,但在測微頭示值誤差檢定時,表3中明確列出測微頭示值范圍為3種情況,為了前后統一,特此在正文中增加了測微頭示值范圍參數。明確了規程的適用范圍;將測量范圍(50~5000)mm改為(50~6000)mm,是因為即將通過的新國家標準案中將測量范圍已擴至6000mm,同時生產廠家已生產有至6000mm的內徑千分尺。7 S& \3 v: O; A6 N5 s: e* S/ H0 [
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5 B# E  h/ r9 r6 w4 E. v
8 D! }& j2 s+ h3 b% x* c& z2.   原規程“7.1要求”中“固定套管縱刻線和微分筒上的刻線寬度為(0.15±0.05)mm,刻線寬度差應不大于0.05mm”。改為“對固定套管直徑不超過16mm的,固定套管上…刻線寬度為(0.10~0.20)mm,刻線寬度差不超過0.03mm;對固定套管直徑大于16mm的…刻線寬度為(0.15~0.25)mm,刻線寬度差應不超過0.05mm”。
: l- x* |: U# G- P/ p7 s# p( T8 J9 v
原因:與GB 8177-87統一。' b% X6 ^/ _4 _; q1 \  ?
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1 ^* Z# U) a" y: i, W( c! a

% e& c2 [  E2 \: `: q3.   原規程“11測微頭與接長桿的組合尺寸”表4中示值誤差要求帶±號,新規程不帶±號。( K6 x2 F. H( E5 P3 R0 d( H$ R) b
* x4 ]! U% n3 p* w0 f. y4 M3 f9 k. t
原因:參考了內徑千分尺國家標準和新的國標草案。
$ N1 |9 S4 n1 X4 [3 s. r9 v& x1 L& {0 A1 |+ @% w8 H$ M. ^
( b" b$ y* Y3 ~1 p% z( j$ f4 `1 S) Z9 n
& q  U5 g* q; Z6 w
JJF1091-2002《測量內尺寸千分尺校準規范》
0 G$ W$ p/ [6 q$ h( w6 |% B" r7 Q/ X. k7 T% ]7 T" @
1.   取消了孔徑千分尺級別要求
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) ?* s. e5 }' P; d* h5 ]原規程中孔徑千分尺分為0級和1級,新規范取消了孔徑千分尺的級別,示值誤差的數值采用了原1級的要求。這是因為孔徑千分尺的分度值雖然有0.005mm和0.01mm的兩種,但由于千分尺結構原理的限制也很難估讀到0.005mm,因此兩種分度值的尺的準確度等級應是同一檔次的,分級沒有意義。1 q3 A1 @3 ^' J' _

0 ~0 c9 t' P, [) `/ e! }  |0 }# z' }. ?! G( n" l, J7 W
3 ~0 |3 [5 _, a: n1 a" D6 J
JJF1102-2003《內徑表校準規范》2 G- T2 U5 a* v* a

0 e4 @+ N( {9 t4.5.1帶定位護橋的內徑百分表活動測頭測力和定位擴橋的接觸壓力表4/ a, u" W, D7 e1 l+ m  y0 `, W% B
' K+ P9 h5 H+ `! M# B
根據其結構原理表4中定位護橋在任何位置接觸壓力均應大于活動測頭的測力。
+ k3 a) v& A' B% [( ?; G  R4 w8 t3 o* b8 X$ h6 X. i$ d. X
( L9 C$ q0 ?7 z# r" h" K: x

/ L/ _& o/ E; R# H) ~% v4.5.2漲簧式內徑百分表漲簧測頭的測力表5
9 N/ G2 l1 r0 B: e! y# M8 X
$ q5 E1 R1 a" T& l, b; h  r按實際使用情況,漲簧測頭的測力應越小越好,這樣可以避免對環規光面的磨損。所以只應規定上限,不規定下限。
! l6 d% y" h- v2 i/ Z, d: F$ I6 A7 V6 N) w3 d6 [" k4 U
0 U. S. u3 j$ k& s: ]
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6.7示值變動性
" c0 E( |( W/ d2 B
) x6 |' r, ]5 C即重復性。其實,自由狀態下的變動性更重要,反應了限位可靠性。檢定方法自由狀態下重復推動測頭5次,取讀數最在值與最小值之差為校準結果。* b9 ?- X3 }% `" S! X7 h) M

. i& ]4 H, H2 r除了規程學習外,本次培訓還解釋了計量標準的穩定性及計量標準的測量重復性定義。
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* S( F. y4 w9 N+ `  d8 e# @計量標準的穩定性指計量標準保持其計量特性隨時間恒定的能力。計量標準的測量重復性指在相同的測量條件下,重復測量同一被測量(穩定的被測對象),計量標準提供相近示值的能力。要注意的是計量標準僅為實物量具(如量具、砝碼等)構成時,它不存在示值變化,所以對實物量具的構成的計量標準不需要進行測量重復性考核。
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       / k9 j4 p, b* K4 [5 H7 K
7 ?2 L8 ^$ K( K4 e- k3 a; n) ?
        以上是我本次學習的小結,僅對重要部分作了列舉說明,對變動不大的或容易理解的內容作了省略。
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發表于 2007-11-28 14:59:00 | 只看該作者
很好的東西。怎么沒人頂。不過這年頭高度尺和內徑表用的很少。
3#
發表于 2007-11-28 15:55:22 | 只看該作者
好東西,收藏拉!!
4#
發表于 2007-11-29 11:39:04 | 只看該作者
資料很好,謝謝樓主了!!
5#
發表于 2008-6-12 13:25:09 | 只看該作者

這個好東西嗎?

你們要多少?長度力學的我基本上都有,規程不是要買的嗎?
6#
發表于 2008-8-14 16:38:39 | 只看該作者
很高興拜讀您的心得 , 我想買這些長度檢定規程 , 是否請告知如何買的到 , 是哪裡出版 , 我到處買不著
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