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CMM測量之掃描簡述,一點拙見

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發表于 2009-5-11 22:15:07 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
CMM掃描測量的一個前提條件是CMM要配備掃描探頭,測量目的是在短時間內采集大量的點。一般情況下,對于圓度、直線度、平面度、輪廓度等形狀公差可以用CMM掃描測量。當然,碰到高精度的零件,還是要用專業的圓度儀來測量圓度、直線度、圓柱度等。CMM掃描測量可以更好的的從宏觀上去認識零件,尋求元素的特性。
0 q* h- X  H$ n3 K( \9 SCMM掃描測量的另一用途是對于未知輪廓的探究。' \4 A5 j* S1 K* l- X# @! m
當然,CMM掃描測量是涉及較深的、知識面廣(如高速掃描時對儀器數據可靠性的修正、數據的濾波等),以上僅是一點點拙見。
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2#
發表于 2009-5-13 06:25:49 | 只看該作者
希望多發表些類似的知識讓我們學習學習 頂一下
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