CMM測(cè)量之掃描簡(jiǎn)述,一點(diǎn)拙見(jiàn)

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CMM掃描測(cè)量的一個(gè)前提條件是CMM要配備掃描探頭，測(cè)量目的是在短時(shí)間內(nèi)采集大量的點(diǎn)。一般情況下，對(duì)于圓度、直線度、平面度、輪廓度等形狀公差可以用CMM掃描測(cè)量。當(dāng)然，碰到高精度的零件，還是要用專業(yè)的圓度儀來(lái)測(cè)量圓度、直線度、圓柱度等。CMM掃描測(cè)量可以更好的的從宏觀上去認(rèn)識(shí)零件，尋求元素的特性。
$ |7 }) K. t& P8 n% \CMM掃描測(cè)量的另一用途是對(duì)于未知輪廓的探究。
當(dāng)然，CMM掃描測(cè)量是涉及較深的、知識(shí)面廣（如高速掃描時(shí)對(duì)儀器數(shù)據(jù)可靠性的修正、數(shù)據(jù)的濾波等），以上僅是一點(diǎn)點(diǎn)拙見(jiàn)。
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