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1#
發(fā)表于 2008-12-21 19:02:44 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
從這貼中http://bbs.cmiw.cn/viewthread.php?tid=100221分離出來(lái)的議題。歡迎各位發(fā)表真知灼見(jiàn)!4 B  o+ G* d( @

1 G& c+ i1 o; d& x3 R[ 本帖最后由 機(jī)械神話(huà) 于 2008-12-21 22:33 編輯 ]
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2#
發(fā)表于 2008-12-21 19:28:01 | 只看該作者
原帖由 機(jī)械神話(huà) 于 2008-12-21 19:02 發(fā)表 ; q- H* i6 s$ P- O+ q: p0 {
從這貼中http://bbs.cmiw.cn/viewthread.php?tid=100221分離出來(lái)的議題。歡迎給位發(fā)表真知灼見(jiàn)!

: k7 \  `; b. t; y; T. Z6 o, w" y7 I  j* z7 }
對(duì)量規(guī)了解得不多, 大概認(rèn)識(shí)如下,
% ]- _% v) i5 ?% |6 C1. 適合產(chǎn)品大批量檢查,效率高,但制造成本相對(duì)被檢測(cè)零件較高.  b* j% T: |7 F  K
2. 使用久了會(huì)有磨損,影響檢測(cè)準(zhǔn)確性,因此設(shè)計(jì)時(shí)需要預(yù)留一定磨損余量.但余量過(guò)大會(huì)導(dǎo)致較多合格零件在檢測(cè)中被拒收. 因此設(shè)計(jì)是需要權(quán)衡量規(guī)使用壽命(磨損余量)和誤判率.: n3 {. S5 T' N1 w* ]- l' U, Z
3. 量規(guī)設(shè)計(jì)和制造公差一般是被檢測(cè)零件公差的1/10.' U2 s) C+ y! @! N- S

; o& C1 y/ w. E& `1 ~2 Q/ F不對(duì)的地方請(qǐng)各位指出.
2 W' x( v2 O- s, d1 t+ n9 C* Y并請(qǐng)大家介紹量規(guī)設(shè)計(jì).
3#
發(fā)表于 2008-12-21 21:25:30 | 只看該作者
量規(guī)設(shè)計(jì)和制造公差有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的數(shù)值,具體可以查看GB/T8069-1998,而不是簡(jiǎn)單的被測(cè)零件公差的1/104 B! V3 G1 ^' F

: W+ [0 Z0 r% x2 V- ]4 R  R' ?4 c5 ~) n[ 本帖最后由 枯藤 于 2008-12-21 21:30 編輯 ]

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 樓主| 發(fā)表于 2008-12-21 21:55:59 | 只看該作者
對(duì)量規(guī)了解得不多, 大概認(rèn)識(shí)如下,
5 ^" q3 E7 l; t* }4 G, ]1. 適合產(chǎn)品大批量檢查,效率高,但制造成本相對(duì)被檢測(cè)零件較高.) z$ q% O  p, D$ m# w! O4 p
同意。高制造成本對(duì)大批量來(lái)說(shuō)可以忽略。
+ W2 H$ [+ T' R
! s9 [6 _5 E( \7 B2. 使用久了會(huì)有磨損,影響檢測(cè)準(zhǔn)確性,因此設(shè)計(jì)時(shí)需要預(yù)留一定磨損余量.但余量過(guò)大會(huì)導(dǎo)致較多合格零件在檢測(cè)中被拒收. 因此設(shè)計(jì)是需要權(quán)衡量規(guī)使用壽命(磨損余量)和誤判率.
, k+ V: o. f8 J+ |9 J. T# f+ i9 Y一定會(huì)考慮磨損,而且根據(jù)使用頻率檢測(cè)量規(guī),僵硬的套用幾個(gè)月復(fù)檢磨損量,是會(huì)出事的(有過(guò)教訓(xùn))。
5 t0 F0 M+ R4 {: {6 A9 C3 K" O" B5 m+ i1 ~
* c3 o/ l  v7 l# V& g3. 量規(guī)設(shè)計(jì)和制造公差一般是被檢測(cè)零件公差的1/10.& _1 }! D3 w/ H  m' `
同意樓上。
5#
發(fā)表于 2008-12-21 22:00:29 | 只看該作者
原帖由 機(jī)械神話(huà) 于 2008-12-21 21:55 發(fā)表
& t6 U, J1 Y- Q8 g對(duì)量規(guī)了解得不多, 大概認(rèn)識(shí)如下,
, f7 K9 d3 T! @! M" x( D9 T  O5 K1. 適合產(chǎn)品大批量檢查,效率高,但制造成本相對(duì)被檢測(cè)零件較高.
% Z5 s* B$ a3 F+ l5 ?同意。高制造成本對(duì)大批量來(lái)說(shuō)可以忽略。
" Q" |" I6 y4 J! I' n9 w- f( l% T6 d, x" E5 g
2. 使用久了會(huì)有磨損,影響檢測(cè)準(zhǔn)確性,因此設(shè)計(jì)時(shí)需要預(yù)留一定磨損余量 ...
) Z! e+ E7 T# E3 u; T3 J( Z/ w

; O3 P, b# o" m3 Q$ G+ j5 k4 H( A( K3 h學(xué)習(xí)了,謝謝
6#
發(fā)表于 2008-12-21 22:17:32 | 只看該作者
其實(shí)這類(lèi)話(huà)題應(yīng)該放在量?jī)x檢具版塊里討論才對(duì)
7#
 樓主| 發(fā)表于 2008-12-21 22:25:43 | 只看該作者

回復(fù) 6# 枯藤 的帖子

樓上所言極是。對(duì)于專(zhuān)業(yè)的測(cè)量,還是到量?jī)x檢具版比較合適。
0 _1 F; T! `5 y: k# k
/ A+ G5 D$ o$ ]& u; Y, D但對(duì)于精密設(shè)計(jì)范疇內(nèi)的檢測(cè)測(cè)量,比如基于Y14.5M的公差計(jì)算、分析和標(biāo)注,來(lái)這里討論也未為不可,況且這個(gè)討論帖剝離與此貼http://bbs.cmiw.cn/viewthread.php?tid=100221
* o  i2 R% w+ x1 C: L! L' \8 w
4 v( ^4 y- V% o* G' M! N; H( h歡迎枯藤朋友發(fā)表高見(jiàn)。
8#
發(fā)表于 2008-12-21 22:27:04 | 只看該作者
原帖由 枯藤 于 2008-12-21 22:17 發(fā)表
% `% o' j/ Z+ P: L其實(shí)這類(lèi)話(huà)題應(yīng)該放在量?jī)x檢具版塊里討論才對(duì)

& P( X) j1 G! j. }: R; ^
* U6 J1 V( m& L2 Z呵呵,內(nèi)容是上屬于量?jī)x檢具的,只是這個(gè)話(huà)題是從Y14.5派生出來(lái)的,所以斑竹才放這兒了.
9#
發(fā)表于 2008-12-21 23:13:04 | 只看該作者
就測(cè)量位置度的綜合檢具,個(gè)人覺(jué)得檢測(cè)誤差比較大,不知道各位有沒(méi)實(shí)測(cè)過(guò),我以前側(cè)過(guò),綜合檢具檢測(cè)合格的零件,上三坐標(biāo)檢測(cè)實(shí)際誤差還比較大
10#
發(fā)表于 2008-12-22 08:55:05 | 只看該作者
原帖由 枯藤 于 2008-12-21 23:13 發(fā)表 % @4 N5 C( J; }1 n
就測(cè)量位置度的綜合檢具,個(gè)人覺(jué)得檢測(cè)誤差比較大,不知道各位有沒(méi)實(shí)測(cè)過(guò),我以前側(cè)過(guò),綜合檢具檢測(cè)合格的零件,上三坐標(biāo)檢測(cè)實(shí)際誤差還比較大

. L9 T0 b; {3 Z& \6 Z% [7 D. {8 Z' h6 ?
不同意這個(gè)說(shuō)法:$ }- I* ?2 }( p. I7 B3 @& H- Z5 x

1 v  p0 [0 b& e( A' q4 m# z6 \* J7 w檢測(cè)包括檢驗(yàn)與測(cè)量 ! p, }# j. a9 b1 E% b2 N9 e
  檢驗(yàn):只判斷零件是否合格,不測(cè)出零件具體數(shù)值 
# C7 ~! t' s/ M  測(cè)量:測(cè)出零件具體數(shù)值,一個(gè)完整的測(cè)量過(guò)程應(yīng)包括以下4個(gè)要素:
6 ~0 j/ v) v) b1 j2 H+ H8 D     ①測(cè)量對(duì)象——包括長(zhǎng)度、角度、表面粗糙度、形狀和位置誤差等" x- Z# o# h3 U; O8 f( e- R
     ②計(jì)量單位——幾何參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)量,包括長(zhǎng)度和角度的單位  1 a& \' w+ p1 ?; N" i: N$ ^/ E7 c$ g
     ③測(cè)量方法——測(cè)量時(shí)所采用的測(cè)量原理、計(jì)量器以及測(cè)量條件的總和
7 `7 G$ i9 i& t: i3 Z/ R5 P     ④測(cè)量精確度——測(cè)量結(jié)果與真值的一致程度8 v1 t) W4 v( n7 z

4 w3 ~. m& z; G 7 V( \# O$ u# {0 }
在檢具符合要求的情況下,這個(gè)不能比較。

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