三坐標(biāo)測頭半徑誤差補(bǔ)償---請教

金峭羿

學(xué)習(xí)了 努力學(xué)習(xí)中 努力學(xué)習(xí)中 努力學(xué)習(xí)中

feifei2003

我個人感覺對于第一點，并不是用越小的探針越好，因為越小的探針剛性就越差。測量的穩(wěn)定性就越差。因此要選取合適的探針。即不能太大，也不能太小。
( r" f# Z' f% ]% n  S5 o0 h對于探針直徑的校準(zhǔn)，我個人理解是在開機(jī)后，用標(biāo)準(zhǔn)球來校準(zhǔn)的。應(yīng)為標(biāo)準(zhǔn)球的直徑是經(jīng)過標(biāo)定的。那么探針的紅寶石球的等效直徑就可以計算出來了。因為有變形的影響，一般等效直徑會小于實際的探針直徑。
在測量過程中，如果不能沿著工件表面的法向測量，就會產(chǎn)生誤差。甚至是粗大誤差。因此要求盡量沿著法向方向給點。可以計算一下，角度偏差的大小會產(chǎn)生多大的變化？在多少度的范圍內(nèi)的誤差是多大?
這只是本人的一些想法，僅供參考。

Alexander0211

其實樓主的疑問用一個關(guān)鍵詞就可以概括，即：“余弦誤差”，這是測頭系統(tǒng)中非常典型的測量誤差之一。
9 E4 T# n8 W: D$ |用三坐標(biāo)測量機(jī)進(jìn)行元素測量時，正確的測量方法是應(yīng)該沿著被測點的法線方向進(jìn)行測量，而實際測量過程中，被測面可能是復(fù)雜的曲面，導(dǎo)致補(bǔ)償點不處于被測面的法向，這種由于被測點與補(bǔ)償點不重合而引起的補(bǔ)償誤差，稱之為余弦誤差。
3 W2 T% V/ p8 ~- J9 K1 e4 i- d針對余弦誤差，目前主流的掃描測頭都有辦法實時的讀取到被測點的XYZ空間坐標(biāo)，通過計算可以得出被測點的實際法向，再結(jié)合測頭半徑（標(biāo)定得來），所以能做出準(zhǔn)確的補(bǔ)償，從原理上解決余弦誤差問題。

Alexander0211

Alexander0211 發(fā)表于 2023-9-28 11:32
% C6 E3 _9 }2 M8 O+ P+ U1 J. Q其實樓主的疑問用一個關(guān)鍵詞就可以概括，即：“余弦誤差”，這是測頭系統(tǒng)中非常典型的測量誤差之一。
用三 ...

比如目前比較高端的leitz LSP-S2或S4測頭就有這種動態(tài)檢測技術(shù)

YIDA.

我又來賺威望啦！！