1.CPK是長期的過程能力，適合于批量生產過程2 n8 V- c" E5 i( {; J* ~
CPK是有偏移情況下的過程能力指數，產品特性均植與公差中心不重合時加以修正用；
/ }! G0 R. J) f$ v2.無偏移時CP表示過程加工的質量能力，CP越大，質量能力越強，有偏移時，CPK表示過程中心與公差中心的偏移情況，CPK越大，兩者偏離越小，表示的是質量能力與管理能力的綜合結果。( b+ s9 |3 C: q: W* ~! q. a
C系列的過程能力指數是指過程的短期短期過程能力指數，P系列的過程能力指數是指過程的長期過程能力指數，使用PP和PPK的好處是可以反映系統當前的實際狀態，而不要求在穩態下才可以進行計算。
' m$ A3 t0 R- r; h1 V! z3 D3.PPK是短期的過程能力，適合于試生產過程，確定上下控制線，進行現場控制
, a3 c. B0 _9 Y& v7 UPPK是QS9000提出的一個新概念，物理含義是不論分布在公差范圍內任何位置，它對于上規范限都可以計算出一個上單側過程性能指數PPU和下單側過程性能指數PPL，取兩者之間最小的一個，就是PPK) L* l8 |$ _; r- a- r" V
4.CMK也是短期的過程能力指數，是針對設備能力的，主要在新采購的設備、設備調試結束后、出現產品質量問題等時候進行cmk測定，它是vda的要求
0 m+ R& u J! xPPK：短期能力指數，一般是在過程的初期計算，因為這個時候的過程受到人、機、料、法、環的特殊原因影響，導致過程不穩定。這個時候的首要任務是讓過程穩定下來，因此此時應連續監控過程或在較短時間內分組來監控過程，計算出來的能力指數就是PPK。I' v0 W/ M/ T9 r- {9 ~
CPK：長期能力指數，該指數必須是在過程人、機、料、法、環、測都穩定的情況下計算，也就是在初始研究后，你的控制圖顯示過程要受控后，方可開始研究CPK。這個時候分組的時間間隔應該較長，以反映過程在較長時間內的誤差（也就是子組之間的誤差），應當忽略在較短時間內抽樣的誤差（也就是子組內的誤差）。+ m, r: X4 M' [8 F! N, @* a, n
ACMK：設備能力指數，跟PPK有相似之處，不同的在于它側重反映設備滿足特性的程度，要求必須將人、料、法、環標準化，只反映設備的影響。因此它的抽樣一般是短時連續抽樣，以排除人員、材料、加工方法和環境的影響，通常CMK中包含了測量系統的變差。1 _8 `& V' T2 K) B
計算PPK時，西格瑪應按照統計學上定義的標準差計算方法進行計算，以反映抽樣樣本的整體標準差。 |
樓主: jnjl
發表于 2008-11-25 15:44:06
學習了，還望大俠們把PPK ，CPK 等參數的計算公式分享一下。
