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一、用途: |
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平面平晶是用于以干涉法測量塊規,以及檢驗塊規、量規、零件密封面、 |
測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。 |
適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、精密加工車間、閥門密封面現場 |
檢測使用,也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。 |
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二、主要技術規格: |
平面平晶 POF-1 | |
| 1、平面平晶 POF-1 標準外形尺寸6 ~5 Z5 |" g3 x! ?8 H$ V6 B
單位:mm
: A* f+ ~, j- H# [& T 特殊規格尺寸平面平晶,環形平面平晶,方形平面平晶可定做. |
環形平面平晶 POF-2 | 2、平面平晶制成兩種精度: 1級 和 2級 |
| 3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為: |
直徑為 30至60mm
% X/ W0 H& Z% U. |8 b1級平晶1 u% D" `* z% z+ z, {. [ V
0.03μm |
直徑為
1 {4 M! V2 U: f# _ k8 `30至60mm
! j0 R) Q; A% E! |; y4 Y# n2級平晶. B* ]3 v" I( q+ o
0.1 μm |
直徑為 80至150mm
" P( `0 J7 y# j& N# D* L t+ l3 H1級平晶$ u" R/ C7 P" l# n! M
0.05μm |
直徑為 80至150mm6 t6 e0 p" r. x6 d/ i- I8 C
2級平晶% y& h' R( X9 D5 P& Y
0.1 μm |
更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值,根據國家標準。 |
方形平面平晶 POF-3 | 4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為:
& S$ y" V" O* y* k( W% U4 y' ?0.03μm |
| 5、平面平晶測量工作應在室溫2 0℃±3℃條件下保持數小時后進行。 |
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鈉光燈 LP-NA600 | 推薦采用標準無頻閃鈉光燈,防止光線頻閃和紫外線對人眼的傷害。 |
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