兩個相互干擾的形位公差該怎么測量

軒轅天一

dyq711 發表于 2016-8-28 21:36
舉個例子假如我要得到兩個面的平行度，肯定是取不同點的兩個面的距離，然而這兩個面的平面度也有要求，那 ...

樓主看了五樓的發言了嗎？獨立原則啊，平面度測平面度的，平行度測平行度的，不用混為一談的
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軒轅天一

軒轅天一 發表于 2016-8-29 06:49
樓主看了五樓的發言了嗎？獨立原則啊，平面度測平面度的，平行度測平行度的，不用混為一談的

而且兩種公差的測量方法不同，只要各自保證滿足各自的公差要求即可。
4 Q; n# \7 I6 e; `想到了鄧的不管白貓黑貓能抓老鼠的就是好貓
+ H) c& `" L* ]( {0 m不管兩組或多組公差如何相互影響，只要保證各自的公差滿足圖紙要求便可以認為合格

一星一億

我也來學習

dyq711

軒轅天一 發表于 2016-8-29 06:52
而且兩種公差的測量方法不同，只要各自保證滿足各自的公差要求即可。
想到了鄧的不管白貓黑貓能抓老鼠的 ...

/ Q; H; J: q1 ^$ o( r2 I" A, n- z那是不是測平行度的時候確實有平面度的影響，只不過不考慮平面度
  X8 N7 }1 x2 G' P! p2 b

oldpipe

dyq711 發表于 2016-8-28 21:36
舉個例子假如我要得到兩個面的平行度，肯定是取不同點的兩個面的距離，然而這兩個面的平面度也有要求，那 ...

就拿你圖示的這個例子來說：平行度的概念是：從底面向上移動一個理想的、平行于底面的平面，直到與頂面第一點接觸，記錄這時的高度，平面繼續向上移動，直到與頂面最后一個點接觸，記錄第二個高度，兩個高度的差，即為頂面對底面的平行度誤差。測頂時，1、將底面放在測量平板上（這時認為底面和平板為理想平面，實際上，這兩個面只有三點真接觸），2、在頂面取n點打表測量高度，
3 c* O+ S; D5 T  e/ u# x3、最大高度-最小高度=測得的平行度誤差。

8 ?1 w* r$ T% b" f0 J: i" b' j平面度的概念是：用一個理想平面去靠被測平面，或者反過來，把被測平面放在理想平面上，可以想象，實際上不平的被測平面會有凹凸，如果凸向與平面接觸，這種接觸不穩定，這時反過來，從凹向接觸理想平面，得到穩定的接觸，再做第二個理想平面，平行于前一個，與被測平面的最高點接觸，兩理想平面間的距離為測得的平面度。實際可能出現多個穩定接觸的情況，理論上給出的原則是：最大最小，即，按前述方法，逐個測量，測量過程以最大高度為測量平面度，最后取所有測量平面度中的最小的一個作為這個被測表面的平面度。

回到你的這個例子上，實際測量時比較常用的方法是：一條邊的兩個頂點和對邊的中點，用精密千斤頂頂起，千分表或百分表與千斤頂配合，使三點等高，再在頂面上移動測量表，測到最高點和最低點，高度差即為平面度。

應該能想明白：一般來說，測出的平面度小于平行度。
  c* L2 m! ~0 j4 J

dyq711

oldpipe 發表于 2016-8-29 22:19
  F! d3 d9 {" ~" v5 ]就拿你圖示的這個例子來說：平行度的概念是：從底面向上移動一個理想的、平行于底面的平面，直到與頂面第 ...

2 w$ p4 h$ _& C* R那在測平行度的時候怎么找這個理想的平面

oldpipe

dyq711 發表于 2016-8-29 22:33
那在測平行度的時候怎么找這個理想的平面

……將底面放在測量平板上（這時認為底面和平板為理想平面……
, N* f3 Y: d3 b$ j! x* _8 t* R

xiaodongping

寂靜天花板 發表于 2016-8-28 12:09
; }% T0 j# d5 z4 h) b兩個圓孔有同軸度公差要求，怎么還會有兩個圓孔的垂直度要求

& ~7 X+ T# ]+ p+ ]7 }+ }8 W同問
' M: t4 s5 I( K

militery1

有很多情況往往就是做基準的部位本身形狀公差誤差就大，反過來要去要求另一個要素的位置公差。這個本身就是不合格的東西再怎么測都沒用的。需要精修測量基準才行

JXTTTTT

我又來賺威望啦！！！