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求解形位公差的檢測方法

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1#
發(fā)表于 2016-8-28 10:24:18 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
在測量某一形位公差時,往往會收到另一形位公差的干擾,比如,在測兩個圓孔的軸線垂直度的時候,會受到兩個圓孔的同軸度的影響,這樣雖然能得到垂直度,但是垂直度里面有同軸度的影響,得到的垂直度不是很可信,那應(yīng)該怎么正確的測量一個受到干擾的形位公差,還有有沒有這樣一種理論,就是兩個形位公差相互干擾時,測得一個值,通過這個值的概率分布,可以得到這個值是同時滿足兩個形位公差。小弟愚昧,不知道這個問題提的對不對。
" E! @1 D4 B/ j7 i. R4 B小弟剛工作,還需要學(xué)習(xí)的很多,謝謝給位前輩的支點
& @: L, S. Z& N+ D1 G" u5 ]
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2#
發(fā)表于 2016-8-28 13:46:48 | 只看該作者
兩條圓孔軸線的垂直度,應(yīng)該是沒法測量的吧?孔軸線的垂直度一般是標(biāo)注對平面的垂直度。
3#
發(fā)表于 2016-8-28 15:56:42 | 只看該作者
1.尺寸,形位公差原則的第一條就是獨立原則
* q; S* S2 s7 k1 Q2.上學(xué)時的書沒丟,好好看看 《互換性與測量技術(shù)基礎(chǔ)》
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