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分享一個充電頭外觀瑕疵檢測的新方法

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1#
發表于 2021-12-31 11:27:00 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
最近新搞定的一個案子,通過運動控制來實時調配充電頭表面到2D線掃相機的距離成像。
一個線掃相機代替了多個面陣相機。
感覺成本沒省多少,效率提高了一些

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2#
發表于 2021-12-31 12:32:25 | 只看該作者
很有意思,掃描精度咋樣?外表缺陷掃描最小可達到絲0.1mm嗎?
3#
 樓主| 發表于 2021-12-31 15:26:22 | 只看該作者
我在或不在呢 發表于 2021-12-31 12:32
很有意思,掃描精度咋樣?外表缺陷掃描最小可達到絲0.1mm嗎?

目前精度±0.03mm
4#
發表于 2022-1-6 03:25:05 | 只看該作者
這個精度是高啊
5#
發表于 2022-1-25 08:34:18 | 只看該作者
我在或不在呢 發表于 2021-12-31 12:32
很有意思,掃描精度咋樣?外表缺陷掃描最小可達到絲0.1mm嗎?

笑死人了,原來絲是0.1mm
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