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6 S: E, a2 F; {, _8 i0 @$ H% C如圖1的一個(gè)長(zhǎng)方體,高度尺寸有+0.2公差,但是沒(méi)有應(yīng)用公差原則。5 M% t3 p* S) {8 p
問(wèn)題1:在實(shí)際工作中,圖1、圖2這樣的高度、直徑尺寸公差到底能不能一定程度的限制形位公差,圖1中上下表面平面度、上下兩面的平行度;圖2中圓柱素線、圓柱軸線的直線度?之前我一直覺(jué)得這樣的情況尺寸公差是可以一定程度上限制形位公差的,但圖面沒(méi)有應(yīng)用公差原則那就是獨(dú)立原則,那尺寸公差又和形位公差一點(diǎn)關(guān)系都沒(méi)有了。
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問(wèn)題2:無(wú)論問(wèn)題1答案如何還有個(gè)疑惑的地方,假如圖1中的三個(gè)“a”尺寸都是卡尺兩點(diǎn)測(cè)量出來(lái)的,都是符合圖紙標(biāo)注的,零件通過(guò);假如圖2中的“b”尺寸,是把該零件平放在檢測(cè)臺(tái)面用高度規(guī)測(cè)量出來(lái)的,這個(gè)尺寸已經(jīng)超標(biāo),零件不通過(guò)。這零件合不合格和測(cè)量手段有關(guān)嗎?還是說(shuō)在測(cè)量檢測(cè)學(xué)里面是有既定的規(guī)則,已經(jīng)制定了是兩點(diǎn)測(cè)量還是平臺(tái)測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)的?: n# \$ G* S# d( C
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