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標(biāo)簽: 無(wú)損檢測(cè)

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分享無(wú)損檢測(cè)常見(jiàn)64個(gè)問(wèn)題集錦: 怪怪 2011-11-10 10:24; 一、什么是無(wú)損探傷？答：無(wú)損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。二、常用的探傷方法有哪些？答：常用的無(wú)損探傷方法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。三、試述磁粉探 ...; 372 次閱讀|0 個(gè)評(píng)論

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