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標題: 兩個相互干擾的形位公差該怎么測量 [打印本頁]

作者: dyq711    時間: 2016-8-28 11:40
標題: 兩個相互干擾的形位公差該怎么測量
在測量某一形位公差時,往往會收到另一形位公差的干擾,比如,在測兩個圓孔的軸線垂直度的時候,會受到兩個圓孔的同軸度的影響,這樣雖然能得到垂直度,但是垂直度里面有同軸度的影響,得到的垂直度不是很可信,那應該怎么正確的測量一個受到干擾的形位公差,還有有沒有這樣一種理論,就是兩個形位公差相互干擾時,測得一個值,通過這個值的概率分布,可以得到這個值是同時滿足兩個形位公差。小弟愚昧,不知道這個問題提的對不對。
7 V' h% \9 g) B) n0 _$ x小弟剛工作,還需要學習的很多,謝謝給位前輩的支點

1 h' Q0 w, N' X5 F! R- s
作者: 寂靜天花板    時間: 2016-8-28 12:09
兩個圓孔有同軸度公差要求,怎么還會有兩個圓孔的垂直度要求
作者: 786187312    時間: 2016-8-28 13:24
孔的同軸度保證了,如果一個孔的垂直度保證,另一個孔自然也保證了
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作者: 山中漁人    時間: 2016-8-28 14:59
本帖最后由 山中漁人 于 2016-8-28 15:00 編輯 4 [+ g6 A2 e* ]9 x' h4 D! ~- i
6 h( z) M0 t6 d8 v/ d, @* i0 [- b
同軸度保證了自然垂直度也就保證了!同軸度達不到垂直度也就達不到要求了% X' c: X! g8 U- ~4 t$ i" x$ K
不存在干擾啊!  A4 L/ x8 b' T! A+ H0 p2 i

作者: oldpipe    時間: 2016-8-28 16:22
公差原則第一條——獨立原則。尺寸公差與形位公差之間,形位公差之間沒有關聯關系,各自獨立要求。
5 q4 ~1 U2 S: ~& R8 _" g6 F2 O1 S
作者: 面壁深功    時間: 2016-8-28 17:22
不是基準和被測面,堅決逼空。也是的話執行孔的最小實體條件原則吧。
作者: newmorn    時間: 2016-8-28 18:55
高中的數學函數,定義域,值域,有幾個變量的話就研究不了了嗎?nono,這就是個簡單的問題而已。你要研究值域,總的先把定義域確定下來把?說了這么多其實想表達的就是@oldpipe 大俠講的---公差獨立性原則!別這里變,那里變的,純屬扯淡!
作者: dyq711    時間: 2016-8-28 21:36
oldpipe 發表于 2016-8-28 16:228 j; Q, ~8 ?, F% I' L- s- Q
公差原則第一條——獨立原則。尺寸公差與形位公差之間,形位公差之間沒有關聯關系,各自獨立要求。
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舉個例子假如我要得到兩個面的平行度,肯定是取不同點的兩個面的距離,然而這兩個面的平面度也有要求,那么得到的平行度里面是有平面度的誤差的,
! P* S/ G, ^2 P2 E! U那正確的測量應該怎么測量0 _, m3 [( v3 j! P  I4 F! w
小弟愚昧,請賜教' R7 ]$ T- c0 l# J; z, N$ A

作者: 未來第一站    時間: 2016-8-28 22:21
請注意公差獨立原則。
作者: 窩哥達    時間: 2016-8-28 22:21
平面度首先是單一要素,平面度與平行度沒有什么必然聯系,分清楚就好
作者: 軒轅天一    時間: 2016-8-29 06:49
dyq711 發表于 2016-8-28 21:36
6 Q! L  V) g& ^. o* M3 J* \舉個例子假如我要得到兩個面的平行度,肯定是取不同點的兩個面的距離,然而這兩個面的平面度也有要求,那 ...
, D: O9 j/ y' L7 T2 o* j+ M$ [
樓主看了五樓的發言了嗎?獨立原則啊,平面度測平面度的,平行度測平行度的,不用混為一談的
5 R$ I% S* z% Z
作者: 軒轅天一    時間: 2016-8-29 06:52
軒轅天一 發表于 2016-8-29 06:49$ B, u0 b/ G: G& _/ }, A; e2 H- m
樓主看了五樓的發言了嗎?獨立原則啊,平面度測平面度的,平行度測平行度的,不用混為一談的

1 q. |- B( b, {) C- n  `0 @( O而且兩種公差的測量方法不同,只要各自保證滿足各自的公差要求即可。, u& ]) B6 _' O0 _4 v, m
想到了鄧的不管白貓黑貓能抓老鼠的就是好貓7 a: l* ?: }; X8 S5 N
不管兩組或多組公差如何相互影響,只要保證各自的公差滿足圖紙要求便可以認為合格
* Q6 [& T  w$ \+ S4 m
作者: 一星一億    時間: 2016-8-29 11:50
我也來學習
作者: dyq711    時間: 2016-8-29 20:14
軒轅天一 發表于 2016-8-29 06:52
6 W6 P, C4 E6 h. v而且兩種公差的測量方法不同,只要各自保證滿足各自的公差要求即可。4 m8 r; M# M! w8 f8 \- a
想到了鄧的不管白貓黑貓能抓老鼠的 ...
. m5 N7 k4 w( J; S: q" ~6 o1 [, [( v
那是不是測平行度的時候確實有平面度的影響,只不過不考慮平面度
3 `6 X8 J4 n+ N, J7 X- g
作者: oldpipe    時間: 2016-8-29 22:19
dyq711 發表于 2016-8-28 21:36/ r# c3 e6 w0 \/ N* b* {1 r
舉個例子假如我要得到兩個面的平行度,肯定是取不同點的兩個面的距離,然而這兩個面的平面度也有要求,那 ...

3 S7 h0 [# q( G4 |6 a& s就拿你圖示的這個例子來說:平行度的概念是:從底面向上移動一個理想的、平行于底面的平面,直到與頂面第一點接觸,記錄這時的高度,平面繼續向上移動,直到與頂面最后一個點接觸,記錄第二個高度,兩個高度的差,即為頂面對底面的平行度誤差。測頂時,1、將底面放在測量平板上(這時認為底面和平板為理想平面,實際上,這兩個面只有三點真接觸),2、在頂面取n點打表測量高度,
. N0 N2 }5 d4 G9 a- j3、最大高度-最小高度=測得的平行度誤差。) P. c2 Q& T4 c( S5 }

% f; h- [; C, o6 B平面度的概念是:用一個理想平面去靠被測平面,或者反過來,把被測平面放在理想平面上,可以想象,實際上不平的被測平面會有凹凸,如果凸向與平面接觸,這種接觸不穩定,這時反過來,從凹向接觸理想平面,得到穩定的接觸,再做第二個理想平面,平行于前一個,與被測平面的最高點接觸,兩理想平面間的距離為測得的平面度。實際可能出現多個穩定接觸的情況,理論上給出的原則是:最大最小,即,按前述方法,逐個測量,測量過程以最大高度為測量平面度,最后取所有測量平面度中的最小的一個作為這個被測表面的平面度。
1 \- E' J2 F( j& y- e' ?- U7 Y: a; w$ A( F+ h5 v3 ?/ K
回到你的這個例子上,實際測量時比較常用的方法是:一條邊的兩個頂點和對邊的中點,用精密千斤頂頂起,千分表或百分表與千斤頂配合,使三點等高,再在頂面上移動測量表,測到最高點和最低點,高度差即為平面度。
) u2 K/ ^1 F# N5 j: @3 t' ~+ @2 J8 F$ e
應該能想明白:一般來說,測出的平面度小于平行度。5 X$ U: f' Z4 `0 @, m* E

作者: dyq711    時間: 2016-8-29 22:33
oldpipe 發表于 2016-8-29 22:196 l2 m, P/ t2 {8 m6 _7 J  W( x
就拿你圖示的這個例子來說:平行度的概念是:從底面向上移動一個理想的、平行于底面的平面,直到與頂面第 ...

- u  N1 b; I3 g3 u, n* s# H( M那在測平行度的時候怎么找這個理想的平面
1 D+ M6 T/ j6 k% {* e7 @
作者: oldpipe    時間: 2016-8-29 23:20
dyq711 發表于 2016-8-29 22:33
8 r" B& C% T* Z0 K- r那在測平行度的時候怎么找這個理想的平面

1 k! R" D  B4 x0 s) c7 l7 z……將底面放在測量平板上(這時認為底面和平板為理想平面……
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作者: xiaodongping    時間: 2016-9-18 14:11
寂靜天花板 發表于 2016-8-28 12:09" D+ m0 D7 o2 u
兩個圓孔有同軸度公差要求,怎么還會有兩個圓孔的垂直度要求

! y* x# t: O9 r/ R- ^* u4 p' F同問
) e5 E) Z4 L) s1 J4 H7 @
作者: militery1    時間: 2016-12-9 13:31
有很多情況往往就是做基準的部位本身形狀公差誤差就大,反過來要去要求另一個要素的位置公差。這個本身就是不合格的東西再怎么測都沒用的。需要精修測量基準才行
作者: JXTTTTT    時間: 2018-7-11 16:23
我又來賺威望啦?。。?hr noshade size="2" width="100%" color="#808080"> 作者: JXTTTTT    時間: 2018-7-11 18:03
我又來賺威望啦?。。?




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