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標(biāo)題: 求解形位公差的檢測方法 [打印本頁]

作者: dyq711    時(shí)間: 2016-8-28 10:24
標(biāo)題: 求解形位公差的檢測方法
在測量某一形位公差時(shí),往往會(huì)收到另一形位公差的干擾,比如,在測兩個(gè)圓孔的軸線垂直度的時(shí)候,會(huì)受到兩個(gè)圓孔的同軸度的影響,這樣雖然能得到垂直度,但是垂直度里面有同軸度的影響,得到的垂直度不是很可信,那應(yīng)該怎么正確的測量一個(gè)受到干擾的形位公差,還有有沒有這樣一種理論,就是兩個(gè)形位公差相互干擾時(shí),測得一個(gè)值,通過這個(gè)值的概率分布,可以得到這個(gè)值是同時(shí)滿足兩個(gè)形位公差。小弟愚昧,不知道這個(gè)問題提的對不對。
" e1 h0 p' x: \9 K6 X$ M. v; W+ m小弟剛工作,還需要學(xué)習(xí)的很多,謝謝給位前輩的支點(diǎn)
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作者: 成歌2047    時(shí)間: 2016-8-28 13:46
兩條圓孔軸線的垂直度,應(yīng)該是沒法測量的吧?孔軸線的垂直度一般是標(biāo)注對平面的垂直度。
作者: 未來第一站    時(shí)間: 2016-8-28 15:56
1.尺寸,形位公差原則的第一條就是獨(dú)立原則: [& }) d' f8 H& {/ L8 _; T
2.上學(xué)時(shí)的書沒丟,好好看看 《互換性與測量技術(shù)基礎(chǔ)》




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