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標題: 以下平面度和平行度的檢測方法對么? [打印本頁]

作者: zlh19871029    時間: 2015-12-22 16:55
標題: 以下平面度和平行度的檢測方法對么?
如下圖:
$ Z  j  D6 n! z9 Z0 ~平面度:放在檢測平臺上,用塞尺塞;
6 f7 \  c0 M& e% {) L平行度:放在檢測平臺上,平行度的面用百分表打。
7 ?/ w& |4 H! P' v# }* T請問,這個方法對么?(我的理解:該方法不可取,因為放在檢測平臺上,平面度會影響平行度,用百分表打的時候會將平面度引入)。   求高手指導。。。4 r. W; @- y6 M$ y
[attach]374365[/attach]
9 Q& b3 Y0 Y, M9 o+ A+ E- I* C
作者: 找不回的賬號    時間: 2015-12-22 19:34
我上來蹭個問題。這是工件和檢具的圖(),工件四個孔直徑6.7深10mm中心距60/40+-0.1,檢具四個柱直徑6.5長7中心距60/40。。。大俠們看看我理解的對不對./ r5 j4 W+ P. e; N9 ]" S
1.檢測時先要確定工件的孔的直徑,要是大于6.7,這個檢具就檢測就檢測不出一些不合格零件了。。$ X# C4 R2 n$ y9 E# ~+ I# Z
2.圖紙上是獨立原則,但是檢具這樣做是不是等于同時把 ‘孔徑’跟 ‘'孔的位置度''關聯(lián)起來了?還是獨立原則嗎?9 O. g' b7 C* U6 i# ?
4.同樣類型的檢具,應該怎么做?那幾個圓柱是不是太長了?
0 o: U, x" F9 \; ]/ h  P加工出來的零件用卡尺測量符合要求,檢具就是放不進去
作者: 虎嘯而過    時間: 2015-12-22 20:30
你都拿塞尺塞了,不說自身影響,如果沒貼實打表結果也有誤差。如果不考慮自身平面度打表還是可以的
1 _" U4 ]% w5 U9 @7 o& ]試試三坐標測量
% h5 C6 Y8 K2 J愚見不對的話見諒
作者: luxiang821    時間: 2015-12-26 09:29
找不回的賬號 發(fā)表于 2015-12-22 19:34 ; V: _! E: ]1 {3 s7 n
我上來蹭個問題。這是工件和檢具的圖(),工件四個孔直徑6.7深10mm中心距60/40+-0.1,檢具四個柱直徑6.5長 ...
' i) A, T! B! F  d% {
你這個是功能量規(guī)(位置度量規(guī))看國標GB8069-1998-T功能量規(guī),有計算范例
4 Y7 P. |8 f; n/ u9 k" n8 R用功能量規(guī)檢測孔組,肯定不是應用獨立原則,應用的是最大實體原則,形位公差可以補償尺寸公差。
作者: luxiang821    時間: 2015-12-26 09:36
本帖最后由 luxiang821 于 2015-12-26 09:40 編輯
, m$ c( h. ?7 f2 \4 M% x0 t% {' J0 S
你檢測方法是沒問題的
0 y* V: f: P5 X$ G2 r圖紙標的有問題,基準平面度0.1,要求平行度0.05,本末倒置了。
3 o5 \% h. _) r2 I0 h2 `9 a5 Y基準的形狀公差要比要求的位置公差小才對。
' V/ q: q* [- t( v檢平面度,拿塞尺塞是現(xiàn)場常用的一種方法,原理上認為,檢測平臺平面度是好的,拿塞尺衡量被測平面和平臺的“貼合度”。
" q/ a3 b+ A, l, r4 x) g; Z+ o用這種方法如果碰到,被測平面是內凹的(也即中間低,周圍高而且在一個平面上),那就有很大誤差了。& Z) @9 ^9 n& |7 A( Z: D
檢平行度,基準面和檢測平臺貼合(認為二者是一個平面,當然基準面平面度會帶來誤差,因此要求基準面平面度要小于平行度,一般是三分之一),打表時表架貼合檢測平臺滑動,根據(jù)表針變化判定平行度為何。
, G: C8 b, r6 v每種檢測方法都有它的優(yōu)缺點,系統(tǒng)誤差是無法避免的,要根據(jù)具體情況判定,影響的大小有所取舍。
作者: niudong    時間: 2016-1-11 19:29
用三坐標可能更精準些,打表時可以移動讀數(shù)




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